蔡司 EVO 系列模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應(yīng)用

EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。

• 顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實驗室的多功能解決方案
• 不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺選項-甚至是大型工業(yè)零部件樣品
• 使用LaB6燈絲，能夠得到優(yōu)異的圖像質(zhì)量
• 對不導(dǎo)電和無導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色
• 可以配置多種分析探測器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求

便捷的可用性

SmartSEM Touch可以通過使用您的指尖與其進行交互式工作流程控制。它簡單易學(xué)， 大大減少了培訓(xùn)所付出的努力和成本，甚至新用戶在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶界面還支持需要自動化工作流程以執(zhí)行可重復(fù)檢查任務(wù)的工業(yè)操作員。

優(yōu)異的圖像質(zhì)量

EVO 擅長于對未經(jīng)處理和沒有導(dǎo)電涂層的樣品獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。EVO 還允許樣品保留其原始狀態(tài)， 維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外當(dāng)成像和微量分析面臨挑戰(zhàn)時，選用LaB₆燈絲則能夠給予更好的分辨率、 對比度和信噪比。

EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)

EVO可以作為半自動、多模式工作流程的一部分，通過重新定位感興趣區(qū)域，并以多種方式收集數(shù)據(jù)，形成信息的完整性。將光學(xué)和電子顯微鏡圖像合并起來進行材料表征或零件檢驗，或者將 EVO 與蔡司光學(xué)顯微鏡相關(guān)聯(lián)，進行關(guān)聯(lián)顆粒度分析。

適合更多用戶操作

對于經(jīng)驗豐富的以及新手用戶操作都很方便

在實際的實驗室環(huán)境中，SEM 的操作通常是顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。但是對于非專家級用戶來說，操作SEM就變得具有挑戰(zhàn)，比如學(xué)生、受訓(xùn)者或質(zhì)量工程師，他們往往也需要從 SEM獲取數(shù)據(jù)。 EVO 則同時考慮了這兩類用戶的需求，用戶界面選項既能滿足有經(jīng)驗的顯微鏡專家也能滿足非專業(yè)用戶的操作需要。

智能導(dǎo)航與成像

大大提高樣品的測試效率，以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出

蔡司導(dǎo)航相機

相機可以安裝在倉室前方， 以監(jiān)測樣品與背散射探測器以及物鏡底端之間的相對位置(倉室相機)；或安裝在真空室倉門上方 (導(dǎo)航相機)， 利用俯視圖查看樣品臺上樣品的擺放位置。此視圖可用于設(shè)置從光學(xué)顯微鏡圖像中識別出的預(yù)定義位置， 并在整個樣品測試過程中輕松導(dǎo)航。

自動化智能成像

EVO實現(xiàn)了對樣品批量自動、無人值守的圖像采集。蔡司自動化智能成像非常適合例行檢測。它使用戶能夠自定義邊界區(qū)域，自動生成所需的視圖或放大倍數(shù)確定的感興趣區(qū)域，并開始自動獲取圖像。自動化智能成像將大大提高樣品的測試效率，以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出。

將您的研究提升一個層次

使用六硼化鑭(LaB6) 電子發(fā)射器能夠獲得更好的圖像

六硼化鑭陰極相較于傳統(tǒng)的鎢發(fā)夾燈絲所發(fā)射的電子能夠保證您額外所需要的圖像質(zhì)量。這種優(yōu)勢體現(xiàn)在以下兩個方面:

• 在相等電子探針尺寸 (即分辨率) 下， 有更多探針電流可供使用， 從而使圖像導(dǎo)航和優(yōu)化更容易
• 在相等的探針電流 (信噪比) 下， 光斑直徑要小得多， 從而提高了圖像分辨率

EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)

工作流程自動化和關(guān)聯(lián)顯微鏡的好處

Shuttle & Find 將EVO、光學(xué)顯微鏡和數(shù)碼顯微鏡組成一個關(guān)聯(lián)的、多模態(tài)工作流程

由于蔡司是各種類型顯微鏡和計量系統(tǒng)的供應(yīng)商， 所以您還可以將EVO 與蔡司其它解決方案相結(jié)合，使其功能能夠發(fā)揮得更好。

通過使用Shuttle & Find（蔡司關(guān)聯(lián)顯微鏡的軟硬件部分），您可以在（數(shù)碼）光學(xué)顯微鏡和 EVO 之間建立一個高效的多模式聯(lián)用的工作流程。將光學(xué)顯微鏡的光學(xué)對比方法與同樣的掃描電鏡成像和分析方法相結(jié)合， 獲得互補的數(shù)據(jù)， 從而更清楚地去了解樣品的材料、質(zhì)量或失效機理

EVO Element EDS

能譜整體解決方案

EVO可以配置集成的 EDS 系統(tǒng)， EVO Element。通過只使用一臺電腦來控制 EDS 和 SEM， 從而提高了可用性。同時通過為顯微鏡和 EDS 控制提供專用的用戶界面， 可以實現(xiàn)并行控制。

EVO Element EDS 解決方案是集成的選擇， 由于在售后服務(wù)支持方面的整合，所以它更具有價格優(yōu)勢

EVO 系列

真空室尺寸選擇