MC022系列薄膜測(cè)厚儀
MC022系列(CH-1-S)
一、CH-1-S型薄膜測(cè)厚儀概述:
CH-1-S型薄膜測(cè)厚儀適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。本測(cè)厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。
二、CH-1-S型薄膜測(cè)厚儀主要參數(shù):
1. 量程:0
2. 上測(cè)頭曲率半徑:15
3. 測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷我:0.1-0.5N
4. 測(cè)量精度:100vm以?xún)?nèi)<1vm
100-250vm<2vm
250vm<3vm