導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng) HAST高加速老化試驗(yàn)箱

主要特點(diǎn)：

l 高精度測量；

l 電阻測量范圍廣、精度高；

l 測試電流3A、5A、15A，可以在同一環(huán)境條件下根據(jù)不同阻值樣品輸出不同電流值

l 通道數(shù)多、可分組，每組測試條件可以獨(dú)立設(shè)置，可同時(shí)進(jìn)行多組不同條件的測試；

l 可通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)測定，可在測定過程中編輯、瀏覽數(shù)據(jù)；

l 具備通訊功能，可接入實(shí)驗(yàn)室管理平臺、ERP等系統(tǒng)；

l 具備遠(yuǎn)程維護(hù)功能；

l 可與HAST環(huán)境試驗(yàn)進(jìn)行聯(lián)動試驗(yàn)。通過與HAST環(huán)境試驗(yàn)箱聯(lián)動，可進(jìn)行溫濕度監(jiān)測、警報(bào)監(jiān)測等；

導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng) HAST高加速老化試驗(yàn)箱

主要用途

●印刷電路板通孔導(dǎo)通評估

●焊料連接性評估

●BGA、CSP焊料連接性評估

●連接器接觸電阻評估

●FPC耐用性評估

●開關(guān)、繼電器等各種接觸電阻評估

●片式電容接合可靠性評估

●不同金屬接合部分評估

●導(dǎo)電膠、各向異性導(dǎo)電膜(ACF)接合性評估

●各種連接材料的連接性評估

適用標(biāo)準(zhǔn)

●IPC-9701A

●IPC-TM-650_2.6.7A

●IPC-TM-650_2.6.7.2B

導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng) HAST高加速老化試驗(yàn)箱

導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)可與zonglen HAST高加速老化試驗(yàn)箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗(yàn)證。更好的保證您PCB檢測的精度和可靠性。