產(chǎn)品概述
JC-200配備抽真空,配置了真空測(cè)試系統(tǒng),增加了元素測(cè)試范圍,探測(cè)器配備 SDD 的測(cè) 試系統(tǒng),特別是提高了 Na、Mg、Al、Si 等輕元素的檢出限,精確度提高了,同時(shí)在測(cè)試 Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl 等其他元素的重復(fù)性穩(wěn)定性有了明顯的提高。
儀器特點(diǎn)
· 無(wú)損檢測(cè),測(cè)量時(shí)間比化學(xué)方法短,不需要輔助材料。
· 可測(cè)定Na(11)~U(92)之間所有元素,元素含量分析范圍為1PPm到99.99%。
· 光譜的自動(dòng)獲取和顯示,具有自動(dòng)檢測(cè)儀器工作狀態(tài)的功能。
· 半導(dǎo)體探測(cè)器,通過(guò)智能激光和檢測(cè)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)高靈敏度,用戶(hù)可自定義多曲線多光譜擬合分析方法。
· 高分辨率圖形即時(shí)顯示,由不同色塊加以判斷區(qū)分。
· 采用BG內(nèi)標(biāo)校正,提高非定性式樣測(cè)量精度,全自動(dòng)定量分析報(bào)告,自適應(yīng)初始化校正。
· 測(cè)試穩(wěn)定性好、分析快速準(zhǔn)確、運(yùn)行成本低、操作維護(hù)方便。
應(yīng)用領(lǐng)域
適用于礦石、合金、水泥、爐渣、煤灰、耐火材料以及中心實(shí)驗(yàn)室成品檢驗(yàn)等領(lǐng)域。
技術(shù)參數(shù)
儀器型號(hào) | JC-200 |
分析元素范圍 | Na(11)—U(92)任意元素 |
檢出下限 | 1ppm |
樣品類(lèi)型 | 固體 / 粉末 / 液體 |
X射線管 | Mo/W/Ag/Rh等靶材可選 管電壓:5─50kV 管電流 :1─1000μA |
內(nèi)腔尺寸 | 150mm*150mm*100mm |
準(zhǔn)直器 | 2、4、4、8mm |
探測(cè)器 | 美國(guó)Amptek SDD探測(cè)器 |
前置放大器 | 美國(guó)Amptek 前置放大器 |
主放大器 | 美國(guó)Amptek 主放大器 |
AD轉(zhuǎn)換模塊 | 美國(guó)Amptek AD轉(zhuǎn)換模塊 |
ADC | 2048道 |
濾光片 | 6種濾光片自動(dòng)選擇并自動(dòng)轉(zhuǎn)換 |
樣品觀察 | 130萬(wàn)彩色CCD攝像機(jī) |
分析軟件及方法 | 升級(jí),理論alpha 系數(shù)法、基本參數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法 |
工作環(huán)境 | 溫度 10-35℃ 濕度 30-70%RH |
外形尺寸 | 600(W)×500(D)×500(H)mm |
重量 | 60kg(主機(jī)部分) |
外部供電要求 | AC220±10%、50/60Hz |
測(cè)試樣品時(shí)間 | 0-300秒可調(diào) |