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BiasHAST偏壓老化測試系統(tǒng)

參考價 111111
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱成都四洋科技有限公司
  • 品       牌ZONGLEN
  • 型       號
  • 所  在  地成都市
  • 廠商性質代理商
  • 更新時間2025/5/26 14:39:51
  • 訪問次數(shù)54
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       成都四洋科技有限公司總部位于中國成都經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū),是一家創(chuàng)新型高科技企業(yè),公司主要有真空和低溫技術兩大業(yè)務板塊。真空領域主要以代理歐美品牌為主,包括真空泵、真空計、膜厚儀、氣體分析、流體控制、壓力控制、鍍膜靶材等全系列產(chǎn)品線,并提供經(jīng)營產(chǎn)品線的全套維保服務。

       低溫技術領域提供從常溫到-263℃范圍溫度解決方案, 主要生產(chǎn)工業(yè)冷水機、低溫冷阱、低溫真空干燥機、低溫制冷機、Polycold深冷水汽捕集泵、高低溫循環(huán)沖擊測試系統(tǒng)、超低溫冷頭等。

代理歐美品牌為主,包括真空泵、真空計、膜厚儀、氣體分析、流體控制、壓力 控制、鍍膜靶材等全系列產(chǎn)品線
BiasHAST偏壓老化測試系統(tǒng),HAST測試系統(tǒng)采用立式結構,便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件,對半導體芯片施加偏置電壓,以模擬芯片在長時間使用過程中的老化效應。該系統(tǒng)廣泛應用于IC封裝、半導體、微電子芯片、磁性材料及其它電子零件的可靠性測試。
BiasHAST偏壓老化測試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

(價格僅供參考,請以實際價格為準

BiasHAST偏壓老化測試系統(tǒng)

HAST半導體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng),HAST測試系統(tǒng)采用立式結構,便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件,對半導體芯片施加偏置電壓,以模擬芯片在長時間使用過程中的老化效應。該系統(tǒng)廣泛應用于IC封裝、半導體、微電子芯片、磁性材料及其它電子零件的可靠性測試。


BiasHAST偏壓老化測試系統(tǒng)

HAST半導體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng)適用于各種封裝形式的射頻場效應管、射頻功率器件等半導體芯片的可靠性測試。通過該測試,可以評估芯片在高溫高濕環(huán)境下的性能穩(wěn)定性、壽命以及潛在的失效模式,為芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和質量控制提供重要依據(jù)。



B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。

B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,(環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設定)給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實時檢測每個材料的漏電流,電壓,并根據(jù)預先設定,當被測材料實時漏電流超出設定時,自動切斷被測材料的電壓,可以保護被測元件不被進一步燒毀。


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