工控摘要：日前，在2014年匹茲堡分析化學及實驗室展上，德州儀器（TI）推出為支持近紅外光（NIR）的使用而優(yōu)化的DLP®芯片組DLP4500NIR以及相對應的DLPNIRscan™評估模塊（EVM）。
　　
　　IbsenPhotonics總裁兼執(zhí)行官HenrikSkovAndersen表示：“將DLP技術應用到我們眾多OEM光譜儀中，是對傳統(tǒng)光譜分析的一次革命。通過采用DLP技術，我們的、可編程的緊湊型多色儀可允許預先選擇多個波長的色散，在VIS-NIR范圍中使用經(jīng)濟的寬帶探測器實現(xiàn)高速透射或吸收測定。這一特性將使客戶能生成動態(tài)的測量方案和算法，為關鍵應用贏得速度和準確性，同時保護樣片遠離不必要的照射。”
　　
　　DLP嵌入式產(chǎn)品事業(yè)部MariquitaGordon表示：“我們一直在不斷突破DLP技術的極限，開創(chuàng)其在*的科學、工業(yè)和醫(yī)療解決方案中的應用。通過采用這款全新的近紅外DLP芯片組，光譜儀器設計師可開發(fā)出全新的移動設備，將在實驗室中才能實現(xiàn)的靈敏度和性應用于現(xiàn)場應用，同時還可降低整個系統(tǒng)成本。”
　　
　　據(jù)悉，通過采用DLP技術，應用于食品、制藥、石油、天然氣以及新興產(chǎn)業(yè)的光譜儀，能夠在現(xiàn)場和生產(chǎn)線上提供等同于實驗室質(zhì)量的性能表現(xiàn)。