納米粒度及Zeta電位分析儀顆粒粒度測(cè)量的性能特點(diǎn)

2022年12月07日 11:11:39人氣：692來(lái)源：澳譜特科技（上海）有限公司

　　納米粒度及Zeta電位分析儀使用優(yōu)化的反演算法，使得測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確度高、重復(fù)性好，還可與多功能自動(dòng)滴定系統(tǒng)相連接，配合強(qiáng)大易用的控制軟件，獲得納米顆粒粒徑和Zeta電位隨pH值、添加劑濃度及溫度變化的趨勢(shì)。軟件還具有一鍵式SOP測(cè)量功能，無(wú)需用戶干預(yù)，自動(dòng)調(diào)整散射光、自動(dòng)優(yōu)化光子相關(guān)器參數(shù)，以適應(yīng)不同樣品，是測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選。

　　納米粒度及Zeta電位分析儀顆粒粒度測(cè)量的性能特點(diǎn)：

　　1.高效的光路系統(tǒng)：采用固態(tài)激光器和一體化光纖探頭搭建而成的光路滿足空間相干性的要求，提高了散射光信號(hào)的信噪比，激光器波長(zhǎng)為532nm，功率50mW。

　　2.高靈敏度光子探測(cè)器：采用計(jì)數(shù)型光電倍增管，對(duì)光子信號(hào)具有*的靈敏度和信噪比；采用邊沿觸發(fā)模式對(duì)光子進(jìn)行計(jì)數(shù)，瞬間捕捉光子脈沖的變化。

　　3.大動(dòng)態(tài)范圍高速光子相關(guān)器：采用以高、低速通道搭配的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)光子相關(guān)器，有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾，實(shí)現(xiàn)了大的動(dòng)態(tài)范圍，并保證了相關(guān)函數(shù)基線的穩(wěn)定性。

　　4.高精度溫控系統(tǒng)：基于半導(dǎo)體制冷裝置，采用自適應(yīng)PID控制算法，樣品池溫度控制范圍為0°~120°，精度達(dá)±0.1℃。

　　5.剔除灰塵的影響：引入分位數(shù)檢測(cè)異常值的方法，鑒別受灰塵干擾的散射光數(shù)據(jù)，并剔除異常值，提高粒度測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。

　　6.優(yōu)化的反演算法：采用優(yōu)化擬合累積反演算法計(jì)算平均粒徑以及多分散系數(shù)，基于非負(fù)約束正則化算法反演顆粒粒度分布，粒度測(cè)量范圍為0.3nm-15μm，測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度和重復(fù)性均優(yōu)于1%。

　　關(guān)于納米粒度及Zeta電位分析儀的介紹就到這里了，希望看完這篇文章你能對(duì)產(chǎn)品有更多的了解！

關(guān)鍵詞：探測(cè)器分析儀 PID

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