高利通生產(chǎn)的INF1000A涂層厚度測(cè)量?jī)x利用光干涉原理實(shí)現(xiàn)涂層材料厚度非破壞性測(cè)試方法，即通過(guò)測(cè)量光的相位差，利用干涉原理確定兩個(gè)表面之間的距離，從而計(jì)算出涂層的厚度。

在測(cè)量過(guò)程中，一束寬光譜光從空氣中射入涂層表面，由于涂層的存在，光束被涂層的上下表面多次反射形成的多個(gè)光束疊加后，形成了干涉條紋。

具體來(lái)說(shuō)，干涉條紋的相位差與被測(cè)物體表面涂層的厚度和折射率有關(guān)。當(dāng)涂層厚度發(fā)生變化時(shí)，其不同表面的反射光的光程差發(fā)生了變化，從而導(dǎo)致干涉條紋相位的改變。根據(jù)干涉條紋相位的變化，可以計(jì)算出涂層厚度和折射率。

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