高利通生產(chǎn)的INF3000P在線薄膜測厚儀，是一種薄膜材料（包括光學鍍膜、半導體鍍膜、新能源電池絕緣膜、膠涂層以及其它平板狀透明材料等）厚度的非破壞性測量儀器。

INF3000P由主機和光纖探頭組成，主機包括穩(wěn)定的寬光譜光源和高精度的光纖光譜儀。使用時，將光纖探頭垂直安裝于被測薄膜材料的上方或下方即可。

INF3000P利用光學干涉原理，通過測量寬光譜光的相位差而計算薄膜材料兩個平行表面之間的厚度。

在測量過程中，一束寬光譜光從空氣中射入薄膜表面，由于薄膜的存在，光束被薄膜的上下表面多次反射形成的多個光束疊加后，形成了干涉條紋。該干涉條紋的相位差與被測物體表面薄膜的厚度和折射率有關。

當薄膜厚度發(fā)生變化時，其不同表面反射光的光程差發(fā)生了變化，從而導致干涉條紋相位的改變。根據(jù)干涉條紋相位的變化，可以計算出薄膜厚度和折射率。

●穩(wěn)定性、可靠性更強，分析更加準確

●軟件控制儀器，功能完善，操作便捷和維護方便

●優(yōu)異的一致性